在高濕度、高粉塵、含腐蝕性氣體（如HCl、HF）的煙氣環(huán)境中，CEMS（煙氣連續(xù)排放監(jiān)測系統(tǒng)）的測量誤差主要源于環(huán)境因素對采樣系統(tǒng)、預處理單元、檢測傳感器及數(shù)據(jù)處理的多重干擾，具體誤差類型及成因如下：

 一、高濕度導致的測量誤差

煙氣高濕度（如濕度＞80%，甚至飽和）會通過“冷凝效應"“介質干擾"“體積校正偏差"三個路徑影響測量精度：

1. 氣體溶解與濃度失真

   高濕度環(huán)境下，煙氣中的水分易在采樣管路、預處理單元中冷凝（尤其當管路溫度低于煙氣露點時）。部分水溶性污染物（如SO?、HCl）會溶于冷凝水，導致進入檢測器的實際氣體濃度**偏低**（例如SO?在水中溶解度高，冷凝水可吸收30%以上的SO?，直接導致測量值偏?。?。

2. 光學測量干擾 

   對于光學類檢測器（如紫外差分吸收法測SO?、NO?），煙氣中的水汽會形成氣溶膠或液滴，導致光信號散射、吸收增強，干擾目標氣體特征波長的光強檢測。例如：水汽對200-300nm紫外光有較強吸收，可能與SO?的特征吸收峰重疊，導致SO?測量值偏高。

3. 濕度校正誤差

   CEMS需將實測濃度換算為“標況干基濃度"（符合國標要求的排放濃度計算基準），需依賴濕度傳感器（如電容式、光學式）的實時數(shù)據(jù)。高濕度下，濕度傳感器易因結露失效（如電容式傳感器受潮后電容值漂移），導致濕度測量不準，進而使干基濃度計算誤差（例如：實際濕度80%，若誤測為60%，會低估干基濃度約15%）。

4. 管路堵塞與采樣偏差

   冷凝水與粉塵結合會形成黏稠液泥，堵塞采樣探頭濾芯、蠕動泵管路，導致采樣流量下降（甚至斷樣），測量值因“樣品代表性不足"而**偏低**（如采樣量僅為設計值的50%，污染物濃度測量結果可能同步偏低）。

 二、高粉塵導致的測量誤差

高粉塵環(huán)境（如粉塵濃度＞50mg/m3，典型于燃煤鍋爐、垃圾焚燒爐）主要通過“物理阻塞"“吸附干擾"“傳感器污染"影響測量：

1. 采樣系統(tǒng)阻塞與樣品損失

   粉塵會堵塞采樣探頭的濾膜/濾芯（尤其是超細粉塵，如PM2.5），導致采樣流量不穩(wěn)定（忽高忽低），甚至阻斷采樣。若未及時反吹（反吹效果不足時），進入檢測器的氣體量減少，污染物濃度測量值**偏低**。此外，粉塵在管路內沉積，會吸附部分污染物（如SO?易被粉塵中的金屬氧化物吸附），進一步降低測量濃度。

2. 檢測器污染與信號漂移 

光學檢測器：粉塵附著在光源、透鏡或氣室壁上，會降低透光率（如透鏡積塵導致光強衰減30%），使儀器誤判為“目標氣體吸收增強"，測量值**偏高**（例如：NO?測量中，粉塵遮擋導致光強下降，可能被誤算為NO?濃度升高）。  

 顆粒物監(jiān)測儀（如β射線法、光散射法）：高濃度粉塵會導致β射線源衰減過快（超過線性響應范圍），或散射光<信號飽和，測量值**偏低**（如實際濃度200mg/m3，可能被測為150mg/m3）。

3. 流量測量誤差

 CEMS需控制恒定的采樣流量（如1L/min）以保證測量穩(wěn)定性。高粉塵會磨損流量計（如轉子流量計、質量流量計）的部件，或在流量計內沉積，導致流量測量不準（如實際流量0.8L/min，誤測為1.0L/min），進而使單位體積內的污染物量計算偏差，<濃度測量**偏高**。

三、腐蝕性氣體（HCl、HF）導致的測量誤差

HCl（酸性）、HF（強腐蝕性）會通過“材質腐蝕"“化學反應"“傳感器中毒"破壞系統(tǒng)穩(wěn)定性，導致誤差：

1. 采樣與預處理系統(tǒng)腐蝕泄漏

若采樣管路、閥門采用普通金屬（如不銹鋼）或不耐腐蝕<塑料（如PVC），HCl會腐蝕金屬生成氯化物（如FeCl?），HF會腐蝕玻璃、普通塑料（如PVC被HF腐蝕后產(chǎn)生裂紋），導致采樣氣體泄漏。泄漏會使外界空氣混入（含新鮮空氣，污染物濃度低），測量值**偏低**（例如：泄漏率10%，則實際濃度被稀釋10%）。  

預處理單元的冷凝罐、干燥器若被腐蝕，會導致冷凝水/干燥劑泄漏，進一步加劇濕度干擾（如干燥器失效導致進入檢測器的氣體濕度驟升）。

2. 傳感器性能衰減與漂移 

 電化學傳感器（如部分SO?、NO?傳感器）的電極（如貴金屬電極）會被HCl、HF腐蝕，導致電極活性下降，靈敏度降低，測量值**持續(xù)偏低**（如靈敏度下降50%，則實際濃度100mg/m3會被測為50mg/m3）。  

光學傳感器的氣室若為玻璃材質，HF會腐蝕玻璃表面（形成毛面），增強光散射，導致測量信號漂移（無規(guī)律偏高或偏低）。

3. 化學反應干擾  

   HCl、HF可能與目標污染物或試劑發(fā)生反應，生成非目標物質，干擾測量。例如：在采用化學發(fā)光法測NO?時，HCl可能與臭氧（O?，反應試劑）反應生成ClO，干擾NO與O?的發(fā)光反應，導致NO?測量值偏高；HF與采樣系統(tǒng)中的水分結合形成氫氟酸，可能溶解光學鏡片上的鍍膜，破壞光路穩(wěn)定性。

 四、多因素協(xié)同作用加劇的誤差

高濕度、高粉塵、腐蝕性氣體的協(xié)同作用會放大單一因素的影響，導致更復雜的誤差：  

高濕度+高粉塵：粉塵與冷凝水結合形成“泥漿狀"物質，加速管路堵塞（堵塞速度比單一高粉塵快3-5倍），同時黏附更多腐蝕性氣體（如HCl溶于水后形成鹽酸，腐蝕性更強），加劇管路腐蝕泄漏。  

高濕度+HF：水汽與HF結合形成氫氟酸溶液，對PTFE（聚四氟乙烯，常規(guī)耐腐材質）的腐蝕速率顯著提升（尤其在高溫下），導致本應耐腐的部件提前失效，系統(tǒng)密封性破壞，誤差不可控。  

高粉塵+腐蝕性氣體：粉塵吸附HCl、HF后形成“腐蝕性粉塵"，沉積在傳感器表面時，既阻塞光路/電極，又通過腐蝕持續(xù)破壞傳感器性能，導致測量值短期內劇烈漂移（如1小時內偏差超過20%）。